第(2/3)页

    工程师调出两份文件，屏幕上出现两块同尺寸样件的局部结构图，WB-01的晶粒边界曾在过渡区聚集，WB-02的对应位置则呈现出均匀排列。

    “同一坐标点。”

    “WB-02晶粒边界连续，孔道周围没有粗化区域。”

    “高热流数据。”

    “对应区域温差零点八摄氏度，表面亮度与周围区域一致。”

    陶安然把放大图切换到成像记录：“无局部熔蚀迹象。”

    苏明哲抬起手：“记录。”

    高热流保持到一半，试验台的四组数据依旧沿目标区间前进，温度、受力、位移和表面成像没有出现越线记录。

    材料组工程师看了一眼计时界面：“设计保持时长完成百分之五十。”

    苏明哲：“继续保持。”

    “若表面温度出现短时抬升，是否暂停？”

    “先看三套测温链，数据一致再判断。”

    陶安然点开独立测温设备的原始页面：“一号链、二号链和三号链的采样结果差值小于工程控制值。”

    “继续。”

    热源输出保持不变，试验舱内的红色光线映在每个人脸上。

    “保持时长完成百分之七十。”

    “背板温度变化。”

    “零点三摄氏度。”

    “结构位移。”

    “最大零点零三毫米。”

    “表面成像。”

    “晶粒纹理连续。”

    苏明哲抬头看向屏幕上方的时间轴，手指在桌面轻轻点了一下。

    “进入最后阶段。”

    热负荷保持时间进入最后区间，WB-02表面亮度趋于固定，边缘区域没有出现新的亮点，弧形过渡区也保持原有轮廓。

    材料组工程师忽然开口：“高热流数据全程处于控制范围。”

    苏明哲看向主屏：“把对比栏调出来。”

    屏幕右侧出现国外同类钨基材料的公开测试数据，三组对照材料在相近热负荷条件下分别出现表面粗化、局部熔蚀和结构位移，其中一组样件在保持阶段出现零点四二毫米的表面损失。

    WB-02的对照数据位于另一侧。

    表面结构保持。

    局部熔蚀零。

    最大结构位移零点零三毫米。

    陶安然看着两列数据：“同等热负荷下，公开对照样件出现表面损失，WB-02没有熔蚀记录。”

    苏明哲：“检测结果复核。”

    材料组工程师重新调用三套设备的原始文件，时间戳、温度峰值和结构位移逐项对应。

    “一号设备，结构位移零点零三毫米。”

    “二号设备，零点零三毫米。”

    “三号设备，零点零二毫米。”

    “表面成像。”

    “无熔蚀。”

    “边缘晶粒。”

    “无粗化。”

    陶安然抬手拍了一下操作台，掌心落下又收回。

    “高热流通过。”

    苏明哲看着最后一组数据，声音落在测试区内。

    “结构稳定，无熔蚀。”

    高热流试验台停止增加热负荷，设备进入保持后的降温程序，热源输出逐步回落，冷却系统继续运行，WB-02样件的表面颜色从暗红退回金属原色。

    材料组人员没有立刻离开岗位，三套测温设备继续保存降温阶段数据，表面成像从高频模式切换到常规模式。

    苏明哲看向陶安然：“降温曲线。”

    “按设计范围回落。”

    “样件结构。”

    “无新增位移。”

    “高热流报告。”

    “正在生成。”

    苏明哲把WB-01与WB-02的结构图放在桌上，手指在两块样件的同坐标位置分别点过。

    “上一轮异常点，收回了。”

    陶安然点开重做工艺记录：“原料批次、烧结记录、弧形过渡区温场和支撑姿态全部留档，重做样件的结构数据与高热流结果能彼此对应。”

    “报告里把这段放在开头。”

    “明白。”

    “WB-01单独保留，后面做原因分析。”

    “按问题样件归档。”

    “WB-02作为工程验证样件。”

    “已经标记。”
    第(2/3)页